特 性--ICT的功能 :
Q918D是我司根據(jù)市場(chǎng)需要,全新推出的一款電路板測(cè)試儀,可滿足業(yè)界目前對(duì)電路板常規(guī)元件、發(fā)光二極管亮度、按鍵測(cè)試、有源器件供電測(cè)試輸出電壓電流的測(cè)試需求。
◆短的數(shù)秒鐘內(nèi),全檢出組裝電路板(loaded PC board)上零件-電阻、電容、電感、電晶體、二極體、穩(wěn)壓二極體、光偶器、繼電器等零件,是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
◆先期找出制程不良所在,如漏件(missing part)、折腳(bending)、短路(short)、錫橋(bridge)、反向(miss-oriented)、錯(cuò)件(wrong part)、開路(open)、焊接不良等問(wèn)題,回饋到制程的改善。 (電路板上的元件焊好以后,能測(cè)試元件的特性是否正常)
◆述故障或不良資訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果,包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值,以供維修人員參考?梢杂行Ы档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度,不需對(duì)產(chǎn)品線路了解,照樣有維修能力。
特性:電解電容器極性測(cè)試功能ECJ; BGA及銀膠貫孔阻值測(cè)試 自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能; 自動(dòng)開短路、元件學(xué)習(xí)功能; 連板展開及連板測(cè)試功能 ; WINDOWS視窗操作介面; 超強(qiáng)電路板圖形檢視功能; 超強(qiáng)測(cè)試報(bào)表及測(cè)試統(tǒng)計(jì)分析功能; 超容性; 品牌ICT程序均能兼容和相互轉(zhuǎn)換; 子板選側(cè):跳過(guò)故障位打件的光板,不測(cè)試
長(zhǎng)久以來(lái),電解電容極性(Polarity)測(cè)試一直是品保人員心中永遠(yuǎn)的痛。 電解電容的反插在PCB上形同潛藏的不定時(shí)炸彈,不知何時(shí)有爆裂的危險(xiǎn)。 傳統(tǒng)ICT對(duì)電解電容極性測(cè)試可測(cè)率僅30~50%,不但測(cè)試時(shí)間長(zhǎng),且漏判率高,而采用人工目視檢查亦同樣耗時(shí)而不可靠。
針對(duì)實(shí)裝電路板電解電容極性和并聯(lián)電容漏件測(cè)試,提出整體解決方案,可測(cè)率趨近于100%, 測(cè)試速度快而精確,真正解決您生產(chǎn)線電解電容測(cè)試的問(wèn)題。針對(duì)電解電容,可測(cè)率趨近100% 固態(tài)防爆電解電容極性趨近100%測(cè)試 并聯(lián)電解電容漏件測(cè)試
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ICT 編輯畫面 |
ICT 測(cè)試畫面 |
ICT 板示畫面 |
測(cè)試時(shí)可即時(shí)圖形顯示不良元件、腳位及針點(diǎn)位置,編輯時(shí)可隨點(diǎn)隨選或手動(dòng)輸入零件編號(hào)、腳位、短/開路不良群組、網(wǎng)點(diǎn)列表等,方便問(wèn)題查找及維修。
傳統(tǒng)二線、三線測(cè)試技術(shù),均只能作較粗略之量測(cè),易造成量測(cè)的死角。本公司機(jī)種采用五線式(5 wires)測(cè)試技術(shù)(2 wires信號(hào), 2 wires測(cè)量表頭,1 wire Guarding),可快速、精確量測(cè)。
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)(Automatic Testing Program Debug),大幅節(jié)省DUT測(cè)試程式制作時(shí)間。
針對(duì)被測(cè)板可作每日、每月或特定期間之測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)分析。根據(jù)不良零件、不良針點(diǎn)排行,能很快找到生產(chǎn)問(wèn)題點(diǎn)所在,有效地達(dá)到如針床品質(zhì)、DUT品質(zhì)等生產(chǎn)問(wèn)題之監(jiān)控。
可快速完成程式調(diào)試,節(jié)約程式調(diào)試時(shí)間;先進(jìn)的連板展開及子板偵測(cè)功能,連板展開后無(wú)需調(diào)試,子板偵測(cè)可實(shí)現(xiàn)對(duì)連板中缺板或無(wú)著件板自動(dòng)刪略測(cè)試
使用四線測(cè)試技術(shù)可消除通道和針點(diǎn)接觸電阻,測(cè)試穩(wěn)定,最小可測(cè)試0.05歐姆電阻。
完善的自我檢測(cè)功能,開機(jī)即對(duì)設(shè)備的量測(cè)卡、開關(guān)卡和I/O卡自檢,保證測(cè)試前設(shè)備的良好性。
可搭配SFIS(Shop-Floor Information System)現(xiàn)場(chǎng)管理軟體連線
單步10個(gè)隔離點(diǎn),對(duì)待測(cè)體信號(hào)源分流提供了更強(qiáng)的隔離效果,提高了測(cè)試的穩(wěn)定。
預(yù)留SFIS系統(tǒng)、條碼掃描、方位監(jiān)控、蓋章功能、紅外線保護(hù)等接口,客戶可根據(jù)需求進(jìn)行選購(gòu)。
測(cè) 試 參 數(shù) :
測(cè)試點(diǎn)數(shù)(標(biāo)準(zhǔn)配置) |
384pins(Standard) 可根據(jù)客戶需求擴(kuò)增 | |
測(cè)試步驟 |
無(wú)限制 | |
開關(guān)卡 |
每一通道卡有64個(gè)通道,128點(diǎn)(選件) | |
隔離點(diǎn) |
每一測(cè)試有10個(gè) | |
測(cè)試速度 |
開/短路 : 0.5sec/1024 points | |
A/D...D/A |
14 位元 | |
信號(hào)源 |
AC 電壓 : 10mVPP ~ 2500mVPP | |
測(cè)試范圍 |
電阻 |
0.1Ω ~ 40MΩ ±1%~5% |
電容 |
1pF ~ 40mF±2%~5% | |
電感 |
1uH ~ 50H±2%~5% | |
二極體及DR模式 |
0.1 ~ 6V±1%~3% | |
穩(wěn)壓二極體 |
0.1 ~ 15V±1%~3%(標(biāo)配)或0.1~50V±1%~3%(選購(gòu)全Realy開關(guān)卡) | |
電晶體 |
三端測(cè)試Vce飽和電壓及β值 | |
場(chǎng)效電晶體 |
三端測(cè)試Vds, Cds , Rd(on) | |
光藕器及繼電器,用四端測(cè)試其導(dǎo)通電壓或電阻 | ||
電解電容器極性測(cè)試 |
3端電解電容極性測(cè)試 ,2端漏電法 | |
貼片元件空焊測(cè)試(選件) |
可另選購(gòu)SMD元件開/短路及空焊測(cè)試模組 | |
阻抗串并聯(lián) |
采用多頻率測(cè)試法或振幅相位法 (相位分離法,8°~82°) | |
主處理機(jī) |
IPC相容主機(jī) | |
打印機(jī)(選件) |
可另選購(gòu)40Column單/雙色打印機(jī) | |
操作系統(tǒng) |
WinXPSR2界面(選購(gòu))/Windows98SR2界面(標(biāo)配),ICT軟件 | |
使用電源 |
AC 100 ~ 240V | |
輕型壓床規(guī)格 |
460mm(W)×370 mm(D)×550 mm(H),氣缸行程:100mm ,缸徑:40φ,出力:100kg(at 5bar) | |
壓床選擇 |
1.輕型壓床. 2.夾手治具. 3.發(fā)針治具 | |
電路板工作尺寸 |
180mm×300 mm | |
機(jī)器尺寸 |
485 mm(W)×500 mm(D)×325 mm(H) | |
供給氣壓 |
3~6kgs/cm2 | |
選購(gòu)功能 |
TAJ:SMD貼片元件開/短路及空焊測(cè)試模組; 穩(wěn)壓IC測(cè)試功能:0~11V,0~20mA可程式; LED亮度測(cè)試功能:0~11V,0~20mA可程式; 按鍵測(cè)試功能 |