全球領先的測試、測量儀器供應商泰克公司(Tektronix, Inc.)宣布推出吉時利(Keithley) S530參數(shù)測試系統(tǒng)的重大軟件更新（KTE 5.6版），能夠將測量時間減少25%。這將增加晶圓級測試吞吐量，并直接降低擁有S530產品的半導體生產和研發(fā)部門的購置成本。
降低生產成本和增加產能是半導體生產公司的關鍵目標，這些公司還必須解決不斷變化的材料演進和器件設計的革新。產線上的參數(shù)測試吞吐量和測試系統(tǒng)購置成本與完成半導體晶圓所需的測量總時間直接相關。新推出的吉時利S530測試系統(tǒng)的KTE軟件通過大幅提高測試速度，向著這一目標邁進一步。
泰克公司吉時利產品線總經理Mike Flaherty表示：“說到生產和測試現(xiàn)代化的集成電路器件，降低購置成本是關鍵。憑借最新推出的軟件版本，我們進一步降低了參數(shù)測試系統(tǒng)購置成本，縮短了測量時間，從而提高產線晶圓測試吞吐量。這將幫助我們的客戶提高利潤和在快速發(fā)展的行業(yè)里保持競爭力。”
S530軟件更新版本通過縮短弱電流測量的建立時間從而增強源測量單元的測試速度。更快的電流測量將帶來更快的系統(tǒng)測量速度。新的系統(tǒng)測量設置和無縫鏈接的的軟件執(zhí)行結構進一步提高系統(tǒng)速度。此次更新還包括整合了泰克的最新吉時利數(shù)字萬用表，用于更快的低電壓和低電阻測量。
S530應用
優(yōu)化的S530適用于廣泛的分立器件組合或廣泛的應用靈活性結合的參數(shù)測試環(huán)境，而快速制定測試計劃也至關重要。除了通常用于測試標準的互補金屬氧化物半導體、雙極性晶體管、微電子機械系統(tǒng)以及其它電壓相對較低如200V的半導體工藝制程外，吉時利還提供獨有的一千伏高壓測試系統(tǒng)，用于GaN、SiC和Si LDMOS電力裝置所需的高擊穿電壓和低漏流測試需求。<
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