EMC 的預(yù)測(cè)試技術(shù)是保證產(chǎn)品質(zhì)量不可少的手段
作者：魯維德 上傳時(shí)間：2009/7/21 17:18:43
摘要：本文主要對(duì)EMC預(yù)測(cè)試技術(shù)特征與新型測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試應(yīng)用實(shí)例作分析說明。
敘詞：電磁兼容性 預(yù)測(cè)試 掃描系統(tǒng) 虛擬暗室
Abstract：The technical characteristics for EMC pretest technology and new testing equipment and testing application example is analyzed in paper.
Keyword：E1ectromagnetic compatibility-EMC, Pretest, Scanning system, Virtual darkroom
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－－本文摘自《電源世界》，已被閱讀15514次
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