YB-6910 IPM 測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介

一、系統(tǒng)概述

YB6910IPM 測(cè)試系統(tǒng)（以下簡(jiǎn)稱系統(tǒng)）是本公司最新推出的一款先進(jìn)的型新大功率器件和半導(dǎo)體模 塊測(cè)試系統(tǒng)。

本系統(tǒng)適合各大研究院所做 IPM 檢驗(yàn)，器件模塊前端，后端檢測(cè)篩選以及在線開發(fā)器件做生產(chǎn)測(cè)試。系統(tǒng)可擴(kuò)展性強(qiáng)，通過(guò)選件可以提高電壓、電流的測(cè)試能力和增加測(cè)試品種范圍。自動(dòng)快速測(cè)試可以滿 足用戶大生產(chǎn)需要，故障率低也保證了用戶的生產(chǎn)效率。在 PC 窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試參數(shù)即可 完成填表編程，操作人員不需具備專業(yè)計(jì)算機(jī)編程語(yǔ)言知識(shí)，使用簡(jiǎn)捷方便。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座，自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降，保證各種情況下測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)面板的顯示裝置能夠及時(shí)顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測(cè)試結(jié)果。系統(tǒng)提供與機(jī)械手、探針臺(tái)、電腦的連接接口，可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。

二、系統(tǒng)參數(shù)配置

系統(tǒng)正常配置能提供 高陽(yáng)極電壓 2000V，陽(yáng)極電流為 400A；

擴(kuò)展電壓和電流范圍，

高 壓 選件——1000V/2200V/3300V/4500V/6000V ，

大電流選件——100A/200A/400A /600A/1000A/2000A

測(cè)試項(xiàng)目：IPM IGBT DIODE

測(cè)試速度：1mS/參數(shù)(本系統(tǒng)采用填入式編程方法，專為國(guó)內(nèi)用戶開發(fā))

主機(jī)尺寸(mm): 630（W）* 2500（D）* 1920（H）

重     量(kg): 330

電     源: 240VAC（-15%） 50/60HZ Fused 2A/1A

三、測(cè)試范圍

【 靜態(tài)參數(shù)指標(biāo) 】

1、 下橋 IGBT/FRD 漏電流測(cè)試(Ices-L)

2、 上橋 IGBT/FRD 漏電流測(cè)試(Ices-H)

3、 上橋 IGBT/FRD 耐壓測(cè)試(Bvce-H)

4、 下橋驅(qū)動(dòng) IC 靜態(tài)工作電流測(cè)試（IDL）

5、 上橋驅(qū)動(dòng) IC 低端靜態(tài)電流測(cè)試

6、 上橋驅(qū)動(dòng) IC 高端靜態(tài)工作電流測(cè)試

7、 故障輸出電壓測(cè)試（Vfoh Vfol）

8、 過(guò)流保護(hù)閾值電壓測(cè)試（Vcin（ref））

9、 下橋欠壓保護(hù)監(jiān)測(cè)電平（UVdd）

10、 下橋欠壓保護(hù)復(fù)位電平（UVdr）

11、 上橋欠壓保護(hù)監(jiān)測(cè)電平 （UVbsd-U V W）

12、 上橋欠壓保護(hù)復(fù)位電平（UVbsr-U V W）

13、 下橋驅(qū)動(dòng) IC 導(dǎo)通閾值電壓（Vth（on）-UL VL WL）

14、 下橋驅(qū)動(dòng) IC 關(guān)斷閾值電壓（Vth（off）-UL VL WL）

15、 上橋驅(qū)動(dòng) IC 導(dǎo)通閾值電壓測(cè)試（Vth（on）-UH VH WH）

16、 上橋驅(qū)動(dòng) IC 關(guān)斷閾值電壓測(cè)試（Vth（off）-UH VH WH）

17、 下橋 IGBT 飽和電壓測(cè)試（Vce(sat)-UL VL WL）

18、 上橋 IGBT 飽和電壓測(cè)試（Vce(sat)-UH VH WH）

19、 下橋 FRD 正向壓降測(cè)試（VF-(UL VL WL)

20、 上橋 FRD 正向壓降測(cè)試（VF-(UH VH WH)

【 動(dòng)態(tài)參數(shù)指標(biāo)】

  1、下橋開關(guān)參數(shù)

集電極電壓 Vce：100～1200V，誤差±3%，分辨 10V

集電極電流 Ice:10～75A，誤差±3%，分辨 1A VD=VBS=15V, 誤差±3%,分辨率 0.1V VIN=0～5V 誤差±3%,分辨率 0.1Vton-L : 10～500nS, 誤差±3%,分辨率 1nS tc（on）-L :5～200ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS toff-L: 50～500ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS tc(off)-L: 5～200ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS Trr-L :10～500ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS Eon-L :0.1～10ｍＪ,誤差±3%,分辨率 0.1mJ

Eoff-L： 0.1～10ｍＪ誤差±3%,分辨率 0.1mJ

2、上橋開關(guān)參數(shù)

集電極電壓 Vce：100～1200V，誤差±3%，分辨 10V

集電極電流 Ice:10～75A，誤差±3%，分辨 1A VD=VBS=15V, 誤差±3%,分辨率 0.1V VIN=0～5V 誤差±3%,分辨率 0.1Vton-H : 10～500nS, 誤差±3%,分辨率 1nS tc（on）-H :5～200ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS toff-H: 50～500ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS tc(off)-H: 5～200ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS Trr-H :10～500ｎS, 誤差±3%,分辨率 1nS Eon-H :0.1～10ｍＪ,誤差±3%,分辨率 0.1mJ Eoff-H： 0.1～10ｍＪ誤差±3%,分辨率 0.1mJ

測(cè)試條件：VPN=600V, VD=VBS=15V IC=50A, VIN=0↔5V，

開關(guān)損耗定義：

Eon：tc(on)時(shí)間段內(nèi) Vce*Ic 的積分，

Eoff：tc(off)時(shí)間段內(nèi) Vce*Ic 的積分。

3、短路測(cè)試

四、系統(tǒng)軟件支持

器件測(cè)試程序的生成是通過(guò)在一臺(tái)運(yùn)行系統(tǒng)為 Windows 或 WindowsNT 的 PC 機(jī)上 YB6910 接口程序?qū)?現(xiàn)的。該程序提供快速的器件測(cè)試程序生成，具有全屏顯示和增強(qiáng)型編輯幫助。

一種填空式編程方法向用戶提供簡(jiǎn)明、直觀的使用環(huán)境。操作人員只需在提示下，輸入所選器件系列名稱和測(cè)試類型，并選擇所需測(cè)試的參數(shù)，而不必具有專業(yè)計(jì)算機(jī)編程語(yǔ)言知識(shí)。完成一個(gè)器件的測(cè) 試程序編制只需幾分鐘的時(shí)間，非常快捷方便。