1. 系統概述
YB6050測試儀是本公司早期推出的一款半導體分立器件測試測試設備。本儀器適合各電子單位以及在線開發器件做來料測試。可以滿足用戶大小批量生產測試需要,故障率低也保證了用戶的工作效率。在面板窗口提示下操作,雙顯示對比面板,操作人員不需具備專業知識,使用即可操作。
系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座,自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證各種情況下測試結果的準確可靠。
2. YB6050測試儀指標
1、主極電壓: 2000V
2、主極電流: 100A
3、測試精度: 3%
3. YB6050主要特性
1、測試電壓2000V.
2、可控硅觸發電流IGT 測量范圍:6—1000uA ,
0—10.00mA, 0—100.0mA 精度:≤3 % 。
3、可控硅觸發電壓VGT測量范圍:0—5V, 精度:≤5 % 。
4、可控硅光耦輸入端LED觸發電壓VFT
測量范圍:0—3V 精度:≤5 % 。
5、可控硅和可控硅光耦輸出端,正反向不重復峰值電壓
VDSM/VRSM測量范圍:0—2KV精度:≤3 % 。
6、可控硅和可控硅光耦輸出端,正反向重復峰值電壓
VDRM/VRRM測量范圍 0—1.6KV精度:≤5 % 。
7、可控硅光耦輸入端LED觸發電流IFT測量范圍:
0—10.00mA, 0—100.0mA 精度:≤3 %
4. YB6050測試范圍
1、各類二極管、三極管、達林頓管、整流橋、MOS場效應管、IGBT及各種模塊的耐壓測試。
2、壓敏電阻、穩壓管、雙向觸發二極管等電壓值的測試。
3、全系列單雙向塑封可控硅觸發電流IGT、觸發電壓VGT的測試,正反向不重復峰值電壓 VDSM / VRSM的測試,
正反向重復峰值電壓VDRM / VRRM的測試。
4、DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的光電耦合器輸入
LED端IFT / VFT的測試,輸出端可控硅正反向不重復峰值電壓VDSM / VRSM的測試,
正反向重復峰值電壓VDRM / VRRM的測試。
5、電流在200A以內,VDSM / VRSM在2KV以內,觸發電流在120mA以內的螺銓型單、雙向可控硅和可控硅組合模塊的觸
發電壓IGT、觸發電流VGT的測試,正反向不重復峰值電壓VDSM / VRSM的測試,
正反向重復峰值電壓VDRM / VRRM的測試。
5. 外形尺寸和電源要求
工作溫度:25℃--40℃
貯存溫度: -15℃--50℃
工作濕度:45%--80%
貯存濕度:10%--90%
工作電壓:200v--240v
電源頻率:47HZ--63HZ
接地要求:供電電源應良好接地。
系統功耗:<80w
設備尺寸:150mm×240mm×280mm
6. 售后服務及保修期限
1.質保期為6個月,質保期內免費進行產品維修和各項技術支持;
2.終生產品技術支持,包括硬件維修,軟件升級等,硬件維修收取成本價,軟件實行免費升級;
3.產品售后在接到用戶電話、傳真、電子郵件服務申請后30分鐘內給予答復,并向用戶詢問系統自檢結果等現場故障情
況。在收到用戶提供的自檢結果后24小時內完成維修服務,恢復用戶生產;48小時內完成一般省外維修服務,
恢復用戶生產;華東、東北等偏遠用戶在72小時內完成維修服務,恢復 篩選生產。
4. 終生免費提供半導體測試技術咨詢.