信息類型：庫存信息 　　 所屬類別：測(cè)試儀器
地區(qū)城市：所有地區(qū) 更新時(shí)間：2015-5-19 10:11:47
聯(lián) 系 人： 楊 有效期限：2016-5-16 10:35:14
公司名稱：西安誼邦電子科技有限公司
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       T3Ster    The Thermal Transient Tester

一、公司產(chǎn)品

● 先進(jìn)的半導(dǎo)體熱特性測(cè)試儀—T3Ster：

T3ster 運(yùn)用 JEDEC 測(cè)試方法(JESD51-1)中先進(jìn)的實(shí)時(shí)采樣靜態(tài)測(cè)試方法（Static Method），廣泛用于測(cè)試各類 IC（包括二極管、三極管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、導(dǎo)熱材料、散熱器、熱管等的熱阻、熱容及導(dǎo)熱系數(shù)、接觸熱阻等熱特性。配合專為 LED 產(chǎn)業(yè)開發(fā)的選配件 TERALED可以實(shí)現(xiàn) LED 器件和組件的光熱一體化測(cè)量。

二、T3Ster 熱測(cè)試儀的配置

         T3Ster 的基本配置包括測(cè)試主機(jī)(包括數(shù)控單元、功 率驅(qū)動(dòng)單元和 1-8 個(gè)測(cè)試通道)以及安裝于 Windows 平臺(tái)的測(cè)量控制和結(jié)果分析軟件。儀器配備有不同 的接口(USB 或 LPT 接口)聯(lián)接到個(gè)人電腦上。

功率：2A/10V	采樣率： 1us
測(cè)試延遲時(shí)間（啟動(dòng)時(shí)間）： 1us	測(cè)試通道數(shù)：2     （最大 8 個(gè)）

                                                          

    外加選配件 T3ster-booster 功率放大器可以使驅(qū)動(dòng)能力提高 10 到 100 倍 每個(gè)通道均采用差分輸入放大器，可以有效地抑制噪聲，大大提高了測(cè)試精度。

三、T3Ster 的應(yīng)用范圍

     T3Ster 采用非破壞性的測(cè)量方法，可以測(cè)量幾乎所有的半導(dǎo)體器件的熱學(xué)性能，包括：

1、分離或集成的雙極型晶體管、常見的三極管、二極管和半導(dǎo)體閘流管、以及大功率 IGBT、 MOSFET 等器件；

2、大功率 LED：MicReD 專為 LED 產(chǎn)業(yè)開發(fā)的選 配件 TERALED 可以實(shí)現(xiàn) LED 器件的光熱一體 化測(cè)量；T3ster 還

   可以測(cè)量整個(gè) LED 燈具的熱 阻；

3、任何復(fù)雜的 IC 器件(利用其內(nèi)置的基板二極 管)；

4、具有單獨(dú)加熱器和溫度傳感器的熱測(cè)試芯片；

5、各種材料包括復(fù)合材料如 PCB、導(dǎo)熱膠等的熱參數(shù)（熱傳導(dǎo)系數(shù)及比熱容）；

6、各類材料之間表面接觸熱阻測(cè)量；

7、各種復(fù)雜的散熱模組的熱特性測(cè)試。

    針對(duì)以上器件，T3Ster除了可以測(cè)量其穩(wěn)態(tài)熱阻外，還可以分析器件熱傳導(dǎo)路徑上各層結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息，包括其熱阻、熱容等參數(shù)，從而構(gòu)建出器件的熱模型。利用這些信息， T3Ster可以為器件封裝工藝的監(jiān)測(cè)、可靠性篩選以及老化試驗(yàn)分析等提供強(qiáng)而有力的支持。