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安捷倫將在京滬深港四地舉辦芯片測試新技術研討會
新聞ID號:  3113 無標題圖片
資訊類型:  交流培訓
所屬類別:  檢測儀器; 傳感器; 連接器及端子; 輔助材料; 其他
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發布時間:  2004/11/12 16:14:56
更新時間:  2004/11/12 16:14:56
審核情況:  已審核開通[2004/11/12 16:14:56]
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發 布 者:  電源在線
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  安捷倫科技(Agilent Technologies)日前宣布,該公司將于9月8日、10日、13日和14日分別在北京、上海、香港和深圳四地舉辦芯片測試新技術研討會(Agilent SOC Test Symposium )。

  據悉,安捷倫的資深技術工程師屆時將在研討會上就多個主題展開演講,其中在北京、上海和深圳三地的主題包括:《系統級芯片測試的下一領域》、《更高性能,更低成本:混合信號測試的下一領域》、《DOCSIS 2.0和HDTV測試挑戰》、《COT & Test Reduction》、《ACLR測量》、《高速測試的下一領域》等;而香港站的研討會則包含上述部分主題。

  安捷倫表示,混合信號與高速儼然已成為科技發展市場的主流。在電子消費領域,為實現高質量的音頻、視頻、基帶I/Q ADC和DAC,業界面臨全新的混合信號測試挑戰。市場價格競爭也日益激烈,應此需求,安捷倫AV8集混合信號八大功能于一身的加強版,可大大增強測試靈活性,并協助降低投資。

  而在高速測試方面,安捷倫繼2003年推出PCI Express測試解決方案——NP2500,協助客戶開發及驗證程序,更上一層樓推出了降低測試成本兼錯誤涵蓋率(Fault Coverage)的BIST Assist 6.4。
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