您的位置：電源在線首頁>>行業(yè)資訊>>行業(yè)要聞>>美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所(NIST)研制出測(cè)量新標(biāo)準(zhǔn)正文

美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所(NIST)研制出測(cè)量新標(biāo)準(zhǔn)

　　電腦芯片中的元件有的僅僅只有40納米，還不到人頭發(fā)絲的千分之一。這些元件在美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所的物理學(xué)家、工程師、統(tǒng)計(jì)學(xué)家和其它有關(guān)人員不懈的努力下已經(jīng)可以被精確的標(biāo)度和校準(zhǔn)，使得電子電路的生產(chǎn)更加現(xiàn)代化。

　　美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所研究的這種新型測(cè)量方法歷時(shí)四年研究而成，通過測(cè)量原子衍射電子產(chǎn)生的間距的算法,算出元件的直徑，提供了一種測(cè)量嵌入式芯片中的精密線形元件的方法。40納米至275納米的植入晶體硅中的元件都可以用此方法進(jìn)行測(cè)量。生產(chǎn)商可以用這種校準(zhǔn)方法校準(zhǔn)微處理器的電子電路，比如芯片中控制電子流動(dòng)部分的元器件。

　　研究所參與研究的一位研究員Richard Allen說道，在半導(dǎo)體行業(yè)中，必須全力以赴才能保持生存。這項(xiàng)研究就是為了測(cè)量線性材料而開展的。

　　這種新型的參考標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量物被安置在晶體硅片中，經(jīng)過同國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所2001年生產(chǎn)的樣本進(jìn)行對(duì)比發(fā)現(xiàn)，這種新的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量物提供了更寬的測(cè)量范圍，能測(cè)量的元器件更細(xì)小。測(cè)量精度也從原來的14納米提高為小于2納米。在這種新的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量物問世以前，各個(gè)生產(chǎn)公司都是通過各自內(nèi)部的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量的。

　　3月2日，在加州圣何塞舉辦的國際社會(huì)光學(xué)工程會(huì)議上，國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所、SEMATECH公司將正式向社會(huì)公布此項(xiàng)成果。

   免責(zé)聲明：本文僅代表作者個(gè)人觀點(diǎn)，與電源在線網(wǎng)無關(guān)。其原創(chuàng)性以及文中陳述文字和內(nèi)容未經(jīng)本站證實(shí)，對(duì)本文以及其中全部或者部分內(nèi)容、文字的真實(shí)性、完整性、及時(shí)性本站不作任何保證或承諾，請(qǐng)讀者僅作參考，并請(qǐng)自行核實(shí)相關(guān)內(nèi)容。

關(guān)于該條新聞資訊信息已有0條留言，我有如下留言：

請(qǐng)您注意：
·遵守中華人民共和國的各項(xiàng)有關(guān)法律法規(guī)
·承擔(dān)一切因您的行為而導(dǎo)致的法律責(zé)任
·本網(wǎng)留言板管理人員有權(quán)刪除其管轄的留言內(nèi)容
·您在本網(wǎng)的留言內(nèi)容，本網(wǎng)有權(quán)在網(wǎng)站內(nèi)轉(zhuǎn)載或引用
·參與本留言即表明您已經(jīng)閱讀并接受上述條款

驗(yàn)證碼：

用戶名： 密碼： 匿名留言   免費(fèi)注冊(cè)會(huì)員