安捷倫科技日前宣布，IDT已經購買8塊安捷倫的BIST Assist量產測試卡，升級其93000系列SOC測試系統。通過本次升級，IDT能夠在環回/BIST模式下，測試速率高達6.4Gb/s的高速鏈路芯片。
從歷史上看，隨著如電視、機頂盒和個人電腦等消費類電子產品中接口芯片帶寬的提高，這些接口芯片諸如Serial ATA(SATA)、光纖通路、高級內存緩沖器(AMB)以及PCI Express，其測試成本相應會呈指數式增加。加之芯片制造商面臨的消費類產品的價格壓力，情況變得更加復雜。安捷倫推出的內建式自測試(BIST)Assist卡，作為93000系列SOC測試系統的擴展，打破了生產過程中高速鏈路芯片測試成本不斷攀升的趨勢。在高速、量產環境中，與傳統全速生產測試方案相比，采用該卡可明顯降低測試成本。
BIST Assist卡的功能包括可調節的精確的抖動注入、直流DC接入能力和全速條件下的電平控制功能。其提供的無可比擬的性能分析能力，使用戶可在無需降低質量標準的情況下實現生產測試。此外，這些功能在BIST或環回模式下，可靈活、全面地滿足各種應用的測試需求，這些應用包括圖像處理、芯片組、交換機和SerDes設備等，具體芯片例如SATA、AMB、PCI Express，以及光纖通道，這些芯片要求以最低的成本，進行高故障覆蓋率、高數據率的生產測試。
“BIST卡使我們能夠在同一測試平臺上進行量產測試和高速接口芯片的測試。” IDT串行交換分部的Mike Converse說，“Agilent 93000和BIST Assist的結合，使IDT具備了以低成本對于高速鏈路接口芯片進行分析測試和量產測試的能力，加快了我們產品的上市周期。”
“獲悉我們的產品能夠幫助IDT繼續開發完整的解決方案，滿足其客戶對于產品上市時間的需求，我們深感榮幸。” 安捷倫半導體測試解決方案事業部副總裁兼總經理Tom Newsom說，“隨著鏈路產品速度的不斷提高，安捷倫BIST Assist卡將持續成為IDT的一項安全投資，保障在量產制造環境中提供廣泛的故障覆蓋率。”
Agilent 93000 SoC系列是可升級的測試系統平臺，全球裝機量已經超過950套。此系列的推出，是為了滿足SOC芯片測試對于測試機性能上的苛刻要求以及價格上的嚴酷挑戰。通過配置多種模塊，該系統可以涵蓋極為廣泛的應用需求，從數據率高達10Gb/s的超高速數字應用，到多種多樣的混合信號應用，直至RF射頻應用。
從歷史上看，隨著如電視、機頂盒和個人電腦等消費類電子產品中接口芯片帶寬的提高，這些接口芯片諸如Serial ATA(SATA)、光纖通路、高級內存緩沖器(AMB)以及PCI Express，其測試成本相應會呈指數式增加。加之芯片制造商面臨的消費類產品的價格壓力，情況變得更加復雜。安捷倫推出的內建式自測試(BIST)Assist卡，作為93000系列SOC測試系統的擴展，打破了生產過程中高速鏈路芯片測試成本不斷攀升的趨勢。在高速、量產環境中，與傳統全速生產測試方案相比，采用該卡可明顯降低測試成本。
BIST Assist卡的功能包括可調節的精確的抖動注入、直流DC接入能力和全速條件下的電平控制功能。其提供的無可比擬的性能分析能力，使用戶可在無需降低質量標準的情況下實現生產測試。此外，這些功能在BIST或環回模式下，可靈活、全面地滿足各種應用的測試需求，這些應用包括圖像處理、芯片組、交換機和SerDes設備等，具體芯片例如SATA、AMB、PCI Express，以及光纖通道，這些芯片要求以最低的成本，進行高故障覆蓋率、高數據率的生產測試。
“BIST卡使我們能夠在同一測試平臺上進行量產測試和高速接口芯片的測試。” IDT串行交換分部的Mike Converse說，“Agilent 93000和BIST Assist的結合，使IDT具備了以低成本對于高速鏈路接口芯片進行分析測試和量產測試的能力，加快了我們產品的上市周期。”
“獲悉我們的產品能夠幫助IDT繼續開發完整的解決方案，滿足其客戶對于產品上市時間的需求，我們深感榮幸。” 安捷倫半導體測試解決方案事業部副總裁兼總經理Tom Newsom說，“隨著鏈路產品速度的不斷提高，安捷倫BIST Assist卡將持續成為IDT的一項安全投資，保障在量產制造環境中提供廣泛的故障覆蓋率。”
Agilent 93000 SoC系列是可升級的測試系統平臺，全球裝機量已經超過950套。此系列的推出，是為了滿足SOC芯片測試對于測試機性能上的苛刻要求以及價格上的嚴酷挑戰。通過配置多種模塊，該系統可以涵蓋極為廣泛的應用需求，從數據率高達10Gb/s的超高速數字應用，到多種多樣的混合信號應用，直至RF射頻應用。
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本文鏈接：IDT采用安捷倫測試卡測試高速鏈路芯片
http:www.mangadaku.com/news/2005-9/200591395258.html
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