安捷倫科技公司(Agilent)日前宣布推出安捷倫Medalist VTEP v2.0，這是由非向量測(cè)試功能組成的套件，其中包括新的NPM測(cè)量技術(shù)。這一測(cè)試功能包括NPM測(cè)量技術(shù)，用戶可以檢測(cè)連接器上電源管腳和接地管腳中的開(kāi)路。
隨著信號(hào)在電路板上傳輸?shù)乃俣仍絹?lái)越高，如在PCIe、DDR和SATA連接器上，正確接地正變得日益關(guān)鍵。隨著速度提高，接地針腳上的開(kāi)路可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)集成的設(shè)計(jì)范圍降低，誤碼率(BER)提高，放射電磁干擾(EMI)提高。
安捷倫VTEP v2.0是為幫助制造商檢測(cè)這些關(guān)鍵缺陷而設(shè)計(jì)的，功能測(cè)試和產(chǎn)品發(fā)售中可能檢測(cè)不到這些缺陷，在后期可能會(huì)給制造商帶來(lái)更高的成本。
此外，通過(guò)VTEP v2.0，用戶可以獲原有得VTEP技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，如更高的靈敏度，更有效地降低噪聲；同時(shí)獲得iVTEP的優(yōu)勢(shì)，該技術(shù)面向采用最小引線框或不帶引線框的超小型集成電路封裝。iVTEP還適用于帶有散熱片的設(shè)備及帶有附加散熱器的器件。
安捷倫還為印刷電路板組件推出了Medalist i3070在線測(cè)試系統(tǒng)。VTEP v2.0采用與原有VTEP相同的硬件，因此不要求進(jìn)行硬件升級(jí)。
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編輯：Ronvy
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http:www.mangadaku.com/news/2007-4/2007426912.html
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