無錫華大國奇科技有限公司自主研發的基于TSMC 65nm工藝節點的USB3.0/2.0 Combo PHY IP核通過了中國電子信息產業集團（CEC）組織的專家組的驗收，其性能完全符合USB3.0 協議的物理層標準規范和USB IF（USB Implementers Forum）兼容性測試要求，且絕大多數參數大幅優于標準技術指標。目前，國奇科技正積極將此Combo PHY向SMIC 40LL工藝轉移，將于近期Tape-out。
“我們的USB 3.0 PHY的測試驗證采用了力科（Teledyne LeCroy）基于SDA825Zi-A+PeRT3+QualiPHY的一整套USB3.0專業測試解決方案，該方案通過Qualify自動化測試軟件將示波器、具有USB3.0協議使能的誤碼率測試儀PeRT3連接到一起，可實現對USB3.0物理層、抖動容限等所有規范要求的項目進行自動化測量，” 國奇科技總裁谷建余表示，“我們已與力科合作成立了聯合實驗室，已配有高性能示波器、誤碼測試儀、信號完整性分析儀、SATA/SAS/USB/PCIE協議分析儀等齊全的設備，能夠滿足USB3.0/2.0在內的多種高速接口的測試、驗證需求，這一聯合實驗室會對外開放，我們很高興能為我們的客戶、合作伙伴提供多元化的服務！”
力科（Teledyne LeCroy）的USB 3.0測試解決方案采用了新一代Zi系列高性能示波器，尤其是采用了其專門針對于USB3.0/SATA/SAS/PCIE等標準高速接口而開發的具有協議握手能力的誤碼率測試儀PeRT3，這使得USB 3.0發射機物理層測試所需要的碼型切換難題以及接收機抖動容限測試需要的進入Loopback環回模式難題變得非常容易。因此，力科的USB 3.0全套測試方案得到了全世界大部分USB 3.0芯片廠商、系統廠商的廣泛使用，是行業內USB 3.0測試驗證首選方案。
關于國奇科技(About Qualchip )
Qualchip(國奇科技)是一家高端集成電路IP供應商及SoC設計生產服務企業，以“直接量產成功”為追求向客戶提供擁有自主知識產權的IP授權和從規格書到芯片（SPEC-to-CHIP）的全流程一站式SoC設計生產以及分段定制服務，并承擔全方位的設計和顧問工作。國奇科技已經成功開發出USB3.0/2.0 PHY、各種高性能ADC/DAC、PLL、DDR PHY等多款先進工藝節點的IP產品；同時還擁有完整的RTL-to-GDS設計流程，包括數千萬門級以上規模的層次化、千萬門級規模的扁平化及高級低功耗設計流程。國奇科技的IP及SoC設計服務技術覆蓋28nm、40nm、65/55nm、90nm、130nm等主流工藝節點。
關于力科(About Teledyne LeCroy)
Teledyne LeCroy（力科）是一家提供全球領先的串行數據測試解決方案的公司，其所創造的優秀的測量儀器能夠快速的測量、分析和驗證復雜的電子信號，從而推動產品研發的不斷創新。LeCroy（力科）公司提供的高性能示波器、串行數據分析儀和全球通信協議測試解決方案，在計算機、半導體和消費電子、數據存儲、汽車和工業、軍事和航空航天等領域得到了設計工程師們的廣泛使用。LeCroy（力科）公司保持了48年來持續不斷的的技術創新傳統，其基礎是眾所周知的“波形分析”的領先優勢——捕獲、查看以及測量高速信號，并推動當今信息和通信技術的發展。Teledyne LeCroy（力科）公司的總部設在Chestnut Ridge，New York。<
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