MIS-4D 絕緣電阻測(cè)試儀|日本萬(wàn)用MULTI
產(chǎn)品詳情
MIS-4D 絕緣電阻測(cè)試儀|日本萬(wàn)用MULTI|絕緣電阻測(cè)試儀MIS-4D 的詳細(xì)介紹
生產(chǎn)廠家: 日本萬(wàn)用MULTI
產(chǎn)品說(shuō)明: 測(cè)試規(guī)格
額定測(cè)試電壓:125V/250V/1000V
有效最大顯示值:20MΩ/50MΩ/2000MΩ
中央顯示值:1.0MΩ/2.0MΩ/50.0MΩ
測(cè)試精度
額定/有效最大顯示值 測(cè)試范圍 容許誤差
50V/10MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥0.01MΩ ≤5MΩ ±5%以下
第二次有效測(cè)試范圍:≥0.005MΩ ≤0.01MΩ ≥5MΩ ≤10MΩ ±10%以下
模擬式,有效范圍外 ±30%以下
125V/20MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥0.02MΩ ≤10MΩ ±5%以下
第二次有效測(cè)試范圍:≥0.01MΩ ≤0.02MΩ ≥10MΩ ≤20MΩ ±10%以下
模擬式,有效范圍外
±30%以下
250V/50MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥0.05MΩ ≤20MΩ ±5%以下
第二次有效測(cè)試范圍:≥0.02MΩ ≤0.05MΩ ≥20MΩ ≤50MΩ ±10%以下
模擬式,有效范圍外 ±30%以下
500V/100MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥0.1MΩ ≤50MΩ ±5%以下
第二次有效測(cè)試范圍:≥0.05MΩ ≤0.1MΩ ≥50MΩ ≤100MΩ ±10%以下
模擬式,有效范圍外 ±30%以下
1000V/2000MΩ 第一次有效測(cè)試范圍:≥2.0MΩ ≤500MΩ ±5%以下
第二次有效測(cè)試范圍:≥1.0MΩ ≤2.0MΩ ≥10MΩ ≤2000MΩ ±10%以下
基本規(guī)格
工作溫濕度:0~40℃,80%RH以下化
(以不結(jié)露為準(zhǔn))
保存溫濕度:-10~60℃,70%RH以下
(以不結(jié)露為準(zhǔn))
使用電池:5號(hào)電池×6
最小工作電池電壓:DC6.3V
耐 電 壓:A3700V/1分鐘(電路~外盒之間)
外形尺寸:170 (長(zhǎng))×105 (寬)×52 (高)mm
重 量:350g(不含電池)
規(guī) 格:JIS C.1302絕緣電阻測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)
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