繼2004和2005年連續(xù)在中國地區(qū)成功舉辦兩屆“設(shè)計、驗證及測試論壇”(Design Validation Test Forum,即DVTF)之后,美國國家儀器中國有限公司(National Instruments,簡稱NI)宣布即將于今年9月21日在北京天鴻科園大酒店主辦第三屆DVTF活動。除了兩年來王牌的自動化測試主題,嵌入式系統(tǒng)設(shè)計也將成為今年的亮點。
延承以往的傳統(tǒng),DVTF 2006聯(lián)合了泰克科技、EWB(Electronics WorkBench)、聲望聲電,以及北京中科泛華、上海聚星儀器等行業(yè)知名公司共同參與,力求將DVTF打造成一個測試測量自動化以及設(shè)計行業(yè)權(quán)威的品牌活動,為廣大測試測量行業(yè)的工程技術(shù)人員提供一個絕佳的平臺,不但可以與行業(yè)專家面對面地交流,了解最新的技術(shù)趨勢,而且還可以同時觀摩多家參與企業(yè)的演示從而獲得最佳的解決方案。
全天的活動將分為嵌入式系統(tǒng)設(shè)計和測試專題與自動化測試專題兩個板塊同時進行。嵌入式系統(tǒng)設(shè)計和測試專題包括:“如何縮短嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計周期”,“無需掌握VHDL,體驗圖形化的FPGA編程 ”,“電路設(shè)計與仿真最新技術(shù)介紹”等;自動化測試專題包括:“最新PCI Express和測試測量總線技術(shù)”,“射頻領(lǐng)域和多種行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)NI的解決方案”,“支持多種傳感器信號的便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)”等。所有議程主題均是充分考慮到設(shè)計和測試兩個領(lǐng)域工程師的實際需求和未來挑戰(zhàn)而準(zhǔn)備的。
除了兩項專題之外,本次DVTF還特設(shè)“測試經(jīng)理高峰論壇”專場,邀請各領(lǐng)域公司的高級測試經(jīng)理參與交流討論,共同應(yīng)對和解決市場快速發(fā)展下產(chǎn)生的各種挑戰(zhàn)。該專場座席有限,憑確認函入場。
三年來,DVTF已經(jīng)在業(yè)界樹立了良好的口碑,今年的會議更是從測試延伸到設(shè)計領(lǐng)域,為設(shè)計工程師提供一個學(xué)習(xí)聚會的平臺。請即刻致電800-820-3622轉(zhuǎn)市場部,或[URL=http://digital.ni.com/worldwide/china.nsf/web/all/41BC1BDA9013F220482571BF00213ED6]點擊此處[/URL]在線報名!
延承以往的傳統(tǒng),DVTF 2006聯(lián)合了泰克科技、EWB(Electronics WorkBench)、聲望聲電,以及北京中科泛華、上海聚星儀器等行業(yè)知名公司共同參與,力求將DVTF打造成一個測試測量自動化以及設(shè)計行業(yè)權(quán)威的品牌活動,為廣大測試測量行業(yè)的工程技術(shù)人員提供一個絕佳的平臺,不但可以與行業(yè)專家面對面地交流,了解最新的技術(shù)趨勢,而且還可以同時觀摩多家參與企業(yè)的演示從而獲得最佳的解決方案。
全天的活動將分為嵌入式系統(tǒng)設(shè)計和測試專題與自動化測試專題兩個板塊同時進行。嵌入式系統(tǒng)設(shè)計和測試專題包括:“如何縮短嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計周期”,“無需掌握VHDL,體驗圖形化的FPGA編程 ”,“電路設(shè)計與仿真最新技術(shù)介紹”等;自動化測試專題包括:“最新PCI Express和測試測量總線技術(shù)”,“射頻領(lǐng)域和多種行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)NI的解決方案”,“支持多種傳感器信號的便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)”等。所有議程主題均是充分考慮到設(shè)計和測試兩個領(lǐng)域工程師的實際需求和未來挑戰(zhàn)而準(zhǔn)備的。
除了兩項專題之外,本次DVTF還特設(shè)“測試經(jīng)理高峰論壇”專場,邀請各領(lǐng)域公司的高級測試經(jīng)理參與交流討論,共同應(yīng)對和解決市場快速發(fā)展下產(chǎn)生的各種挑戰(zhàn)。該專場座席有限,憑確認函入場。
三年來,DVTF已經(jīng)在業(yè)界樹立了良好的口碑,今年的會議更是從測試延伸到設(shè)計領(lǐng)域,為設(shè)計工程師提供一個學(xué)習(xí)聚會的平臺。請即刻致電800-820-3622轉(zhuǎn)市場部,或[URL=http://digital.ni.com/worldwide/china.nsf/web/all/41BC1BDA9013F220482571BF00213ED6]點擊此處[/URL]在線報名!
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來源:美國國家儀器公司
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http:www.mangadaku.com/news/2006-9/20069110954.html
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文章標(biāo)簽: NI

