印度英特爾科技與東芝微電子分別發(fā)表耗電量分析事例

  　Sequence Design于11月8日在東京召開了非公開研討會(huì)（Private Seminar）“Design for Power Seminar 2007”。在會(huì)上作為Sequence Design的耗電量分析工具“Power Theater”的用戶，印度英特爾科技（Intel Technology India ）以及東芝微電子（Toshiba Microelectronics）分別發(fā)表了演講。

　　首先發(fā)言的是英特爾的Karthikeyan G.T.（高級(jí)元器件工程師)。Karthikeyan介紹了印度英特爾科技在芯片組的上游開發(fā)工作中運(yùn)用Power Theater的事例。該公司此前一直使用稱為“ALPS”的自主開發(fā)的耗電量分析工具（該工具屬于Karthikeyan的集團(tuán)公司所有，并不是全球英特爾都在使用）。ALPS在其開發(fā)的早期階段，被用于粗略估計(jì)耗電量，僅作為結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的參考。

　　第2個(gè)發(fā)言的用戶是東芝微電子的南文裕。南文裕談到了兩方面問(wèn)題，即（1）使用Power Theater的門級(jí)耗電量分析的高速化，以及（2）Power Theater與壓降分析工具的聯(lián)動(dòng)。這些問(wèn)題，特別是第（2）個(gè)問(wèn)題，在壓降分析工具經(jīng)銷商非公開研討會(huì)的演講中也進(jìn)行了探討。

　　南文裕首先就第（1）個(gè)問(wèn)題發(fā)表了演講。此前該公司由于重視精度，因而通過(guò)門級(jí)進(jìn)行基于仿真的耗電量分析。然而從數(shù)年前開始，隨著電路的規(guī)模逐漸增大，分析工作也必需實(shí)現(xiàn)高速化，因此，該公司轉(zhuǎn)而采用可傳播活動(dòng)性（Activity）數(shù)據(jù)的無(wú)矢量分析。這種情況下，為了同時(shí)達(dá)到較高的精度以及處理速度，活動(dòng)性數(shù)據(jù)的計(jì)算是通過(guò)RTL進(jìn)行的，以此為基礎(chǔ)的耗電量分析則是通過(guò)門級(jí)進(jìn)行的。

　　轉(zhuǎn)而采用無(wú)矢量分析后，仍成功地使分析的誤差保持在了15％以內(nèi)，這與通過(guò)門級(jí)進(jìn)行的基于仿真的分析誤差相同。為此在進(jìn)行取得活動(dòng)性數(shù)據(jù)的RTL仿真時(shí)，其結(jié)構(gòu)會(huì)在邏輯合成前后發(fā)生巨大變化的門控輸入觸發(fā)器（Flip Flop）附近的電路電平，預(yù)先降到了門級(jí)。另外，在耗電量的無(wú)矢量分析階段，通過(guò)Sequence求出因觸發(fā)器種類不同而造成耗電量不同的解決方法，以減少與仿真之間的分析誤差。結(jié)果，成功地將單元（Cell）單體的計(jì)算誤差控制在了約5％以內(nèi)。另外，從芯片整體來(lái)看，已確認(rèn)誤差控制在了15％這一目標(biāo)值以內(nèi)。

　　關(guān)于內(nèi)容（2），即Power Theater與壓降分析工具的聯(lián)動(dòng)方面，介紹了包含Power Theater以及壓降分析工具“RedHawk”在內(nèi)的分析流程。另外還展示了分析結(jié)果的圖示， 以此表明，與單純的無(wú)矢量分析相比，南文裕等人的方法接近于使用矢量的分析。