由北京中科泛華測控技術有限公司(以下簡稱“泛華測控”)主辦、美國國家儀器有限公司(以下簡稱“NI”)協辦的“汽車電子測試技術專題研討會(長春站)”于6月21日在長春花園酒店二樓水晶宴會廳舉辦。會議于當天下午圓滿結束。
隨著汽車電子技術在全球汽車工業中的廣泛運用,我國汽車電子市場的發展空間也日趨廣闊。泛華測控專注于汽車電子測試技術與產品開發,成功地為西門子、霍尼韋爾、二汽集團等知名企業提供了自動化的測試設備和解決方案。經過多年的發展,泛華測控在國內汽車電子測試技術領域已位居前列,其產品已具備與國外同類產品競爭的實力。此次選擇國家汽車生產基地、國家整車及零部件出口平臺的長春作為泛華測控“汽車電子測試技術專題研討會”的第一站,有著極其重要的意義!
此次研討會上,泛華測控開發工程師闞宏偉、任獲榮以及銷售主管景文義同來賓分享了泛華測控在汽車電子測試領域的先進技術和最新應用。其中特別介紹了:汽車電子測試解決方案、噪聲源定位和模態分析、圖像處理技術在汽車電子測試中的應用。另外,NI公司東北區域銷售工程師劉春廣介紹了NI軟硬件在汽車電子測試中的應用情況、車載數據采集應用和汽車NVH測試分析。在研討會現場還安排了系統演示,其中“汽車儀表盤測試系統” 吸引了眾多來賓的關注。據悉,泛華測控“汽車電子測試技術”專題下一站的研討會正在籌劃中。
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編輯:Ronvy
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本文鏈接:“泛華測控”汽車電子測試技術專題研討會
http:www.mangadaku.com/news/2007-7/200771291941.html
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文章標簽: 泛華測控/NI/汽車電子測試技術

