在測試測量行業(yè)高速發(fā)展的今天，工程師們對數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的精度、采樣率和傳輸速率要求越來越高，如何快速構(gòu)建高效完整的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)成為整個測試測量工程項目的核心與關(guān)鍵。2008年泛華DAQ事業(yè)部“快速構(gòu)建高效完整的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)”研討會將為您解析數(shù)采系統(tǒng)的搭建過程，并通過用戶案例與您共同探討數(shù)據(jù)采集的解決方案，以滿足廣大測試測量工程師對數(shù)采系統(tǒng)的專業(yè)需求，敬請關(guān)注！
泛華DAQ事業(yè)部是National Instruments（美國國家儀器有限公司）與北京中科泛華測控技術(shù)有限公司聯(lián)合成立的部門，DAQ事業(yè)部以NI高品質(zhì)數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品為平臺，秉承以人為本的服務(wù)理念，為國內(nèi)數(shù)據(jù)采集用戶提供專業(yè)而完善的售前售后服務(wù)。
本研討會將于2008年10月 21日在青島舉辦，屆時DAQ事業(yè)部將向您展示最新的NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品，并且免費為您發(fā)放尖端產(chǎn)品資料和數(shù)據(jù)采集白皮書，并為廣大測試測量工程師提供現(xiàn)場技術(shù)咨詢。此次研討會將引領(lǐng)您進(jìn)入數(shù)據(jù)采集技術(shù)的殿堂，您不僅會了解到數(shù)據(jù)采集和信號調(diào)理基礎(chǔ)知識，NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品的性能和優(yōu)勢所在，還將掌握快速構(gòu)建高效完整的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的先進(jìn)技術(shù)以及數(shù)采產(chǎn)品的選型方法。涉及的產(chǎn)品包括：M系列多功能數(shù)據(jù)采集卡、S系列同步數(shù)據(jù)采集卡、USB便攜式數(shù)據(jù)采集設(shè)備、LabVIEW的圖形化開發(fā)平臺等多種產(chǎn)品。
作為全球領(lǐng)先數(shù)采設(shè)備的專業(yè)供應(yīng)商，泛華DAQ事業(yè)部將致力于為客戶提供最貼心和專業(yè)的服務(wù)，與客戶攜手共同成長是DAQ事業(yè)部最大的心愿！
詳情及報名方式：
時間：10月21日下午14:00-17:00
地點：青島貴都（國敦）大酒店3樓貴賓廳（青島市香港中路28號）
報名放式：
推薦報名方式: 撥打010-68711970與中國電子應(yīng)用網(wǎng)市場部聯(lián)系
在線報名方式: 請登陸中國電子應(yīng)用網(wǎng)http://www.01ea.com
或準(zhǔn)確填寫報名表: 傳真至010－68715453 ，E-mail至century@century-c.com
報名表下載地址:http://www.gkong.com/weekly/084/Daq.htm
編輯：ronvy
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