泰克攜手NEC演示SuperSpeed USB測試解決方案

兩家公司合力推進新興串行標準，泰克測試解決方案大放異彩

    2009年2月5日，全球領先的測試、測量和監測儀器提供商，泰克公司日前宣布，與NEC電子美國公司（NEC Electronics America,Inc.）合作，在2009年消費電子展（CES 2009）上首次公開展示該公司的新型超高速USB（SuperSpeed USB/USB 3.0)設備樣機。作為設計和生產集成電路的全球領先者，NEC電子通過與泰克的合作，驗證了其新型硅元件滿足新興超高速USB標準的要求。本次USB 3.0實地演示采用NEC電子的USB 3.0物理層測試芯片，是業內第一個基于USB 3.0 Rev1.0規范的接收機和發射機演示。

    嚴格的互操作性標準以及符合標準的一致性測試結果，都有力地證明了當前高速串行標準架構的成功。隨著數據速率達到5Gb/s，超高速USB也繼PCI Express® 2.0和SATA Gen 3之后，步入了尖端協議之列。對其的測試成為一項復雜的挑戰，測量儀器必須擁有杰出的性能和靈活性，同時要求快速并簡化設置任務、測量步驟和分析工作。泰克超高速USB解決方案是第一個滿足所有發射機和接收機測試中符合超高速USB規范要求的成套工具。

    “作為USB和PCI Express技術的領先供應商，NEC電子提供開發下一代USB技術所需的全部構件，能夠與泰克這樣的測試測量設備領導廠商合作，促進新興超高速USB標準的發展，我們感到非常榮幸。”NEC電子美國公司數字消費和互連戰略事業部總經理Kats Nakazawa說，“泰克為超高速USB生態系統提供了急需的測試設備，幫助市場更好地接受和應用超高速USB技術。”

    “泰克和NEC電子美國公司在超高速USB產品上的協作體現了我們對新標準的承諾。”泰克公司技術解決方案部總經理Ian Valentine說，“我們的測量工具與NEC電子美國公司的設計人員同處一線，支持新興技術的發展，并在整個產品設計過程中，為設計人員進行芯片的標準一致性測試提供了有效的途徑。”

    泰克解決方案幫助設計人員迎接超高速USB標準挑戰

    超高速USB接口芯片可望于2010年初批量生產。如今，希望在產品中采用這種新技術的設計人員正密切關注怎樣保證其物理層(PHY)設計滿足這一新規范。泰克超高速USB測試解決方案為此提供了一整套工具。

    泰克超高速USB一致性測試解決方案建立在一系列儀器的基礎上，包括實時示波器和采樣示波器、邏輯分析儀等等，所提供的優秀測量性能可滿足高速串行協議的需求。例如，DSA71254實時示波器擁有五倍于串行信號時鐘速率的帶寬，這個“五階諧波”對眼圖分析至關重要。類似的，AWG7122B任意波形發生器提供了復雜的波形，其中包含模擬傳輸路徑劣化效應的各種壓力，以支持接收機測試。這些硬件工具與專業的應用軟件配套使用，如DPOJET抖動和眼圖分析工具和SerialXpress高級抖動生成工具，為設計人員檢驗和調試設計提供了所需的工具。

    關于泰克公司

    泰克公司是一家領先的測試、測量和監測產品提供商，它為全球通訊、計算機和半導體行業以及軍事／航空航天、消費電子、教育等行業提供各種測量解決方案和服務。泰克公司擁有60多年的豐富經驗，幫助用戶設計、構建、配置和管理下一代的全球通訊網絡、計算技術和普及技術。泰克公司的總部設在俄勒岡州畢佛頓，在全球19個國家和地區設有辦事機構。泰克公司的中文網址是www.tektronix.com.cn。

    Tektronix是泰克公司的注冊商標。本文中提到的所有其它商號均為各自公司的服務標志、商標或注冊商標。PCI Express是PCI-SIG的注冊商標。